Medimos os espectros infravermelhos de transformada de Fourier de transmissão de carboneto de silício cúbico(politipo 3C–SiC) camada epitaxial com 20 µm de espessura em um substrato de silício de 200 µm de espessura. Os espectros foram registrados na faixa de número de onda de 400–4000 cm-1. Uma nova abordagem de cálculos de espectros de infravermelho com base na capacidade de recursão da linguagem de programação C é apresentada com base na propagação de luz polarizada em mídia em camadas usando as equações de Fresnel generalizadas. Os índices de refração complexos são os únicos parâmetros de entrada. Uma concordância notável é encontrada entre todas as características espectrais experimentais de SiC e Si e os espectros calculados. Uma atribuição abrangente de (i) os dois modos de fônon óptico transversal fundamental (TO) (790 cm-1) e óptico longitudinal (LO) (970 cm-1) de 3C-SiC, (ii) com seus harmônicos (1522–1627 cm−1) e (iii) as bandas de somação óptico-acústica de dois fônons (1311–1409 cm−1) é obtida com base em dados disponíveis na literatura. Esta abordagem permite classificar as respectivas contribuições do substrato Si eCamada superior de SiC . Tais cálculos podem ser aplicados a qualquer meio, desde que os dados do índice de refração complexo sejam conhecidos.

Fonte: IOPscience

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