a densidade e intensidade de dispersão de luz dos precipitados de oxigênio silício cz os cristais são medidos por tomografia por dispersão de luz. os dados numéricos esclarecidos através das medições são discutidos em relação à quantidade de oxigênio precipitado. os resultados obtidos aqui correspondem bem à análise teórica de que os precipitados de oxigênio causam a dispersão da luz. as informaçõ...
Para realizar o carboneto de silício de alto desempenho ( SiC ) dispositivos de potência, contatos ôhmicos de baixa resistência ao SiC tipo-p devem ser desenvolvidos. Para reduzir a resistência do contato ôhmico, é necessário reduzir a altura da barreira nas interfaces metal / SiC ou aumentar a concentração de dopagem nos substratos de SiC. Como a redução da altura da barreira é extremamente difíc...
Neste trabalho, usando um simulador de dispositivo eletro-térmico tridimensional totalmente acoplado, estudamos o mecanismo de degradação de eficiência em alta operação atual em planar G uma Diodos emissores de luz baseados em N (CONDUZIU). Em particular, foi demonstrada a melhoria da degradação da eficiência utilizando substratos GaN condutores mais espessos. Primeiro, verifica-se que o aquecimen...
Nós apresentamos um método sem contato para a determinação do tempo de resposta térmica de sensores de temperatura embutidos em wafers. Neste método, uma lâmpada de flash ilumina um ponto na bolacha em pulsos periódicos; o ponto está no lado oposto do sensor em teste. A constante de tempo térmica do sensor é então obtida a partir da medição de sua resposta temporal, juntamente com um modelo teóric...
Usando deposição de vapor químico melhorado por plasma (PECVD) a 13,56 MHz, uma camada de semente é fabricada na fase inicial de crescimento do microcristalino hidrogenado silício germânio (μc-Si1-xGex: H) i-layer. Os efeitos dos processos de semeadura no crescimento de μc-Si1-xGex: H-camadas e o desempenho de μc-Si1-xGex: Hp-i-n células solares de junção única são investigados. Ao aplicar este mé...
Um método de imagem não destrutivo sem contato para concentração de dopante resolvida espacialmente, [2.2] N d, e resistividade elétrica, ρ, de wafers de silício tipo n e pusando imagens de portadora lock-in em várias intensidades de irradiação de laser. Informações de amplitude e fase de locais de wafer com resistividade conhecida foram empregadas para derivar um fator de calibração para determin...
Os recentes avanços no crescimento de filmes epitaxiais de SiC em Si são vistos. Os métodos clássicos básicos atualmente usados para o crescimento de filmes de SiC são discutidos e suas vantagens e desvantagens são exploradas. A ideia básica e o embasamento teórico para um novo método de síntese de filmes epitaxiais de SiCem Si são dadas. Será mostrado que o novo método é significativamente dife...
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