este artigo propõe uma nova tridimensional (3d) fotolitografia tecnologia para um processo de micropatterning de alta resolução em um substrato de fibra. uma breve revisão sobre a tecnologia de litografia da superfície não planar também é apresentada. A tecnologia proposta compreende principalmente a microfabricação do módulo de exposição 3D e a deposição de spray de filmes resistentes finos na fi...
a densidade e intensidade de dispersão de luz dos precipitados de oxigênio silício cz os cristais são medidos por tomografia por dispersão de luz. os dados numéricos esclarecidos através das medições são discutidos em relação à quantidade de oxigênio precipitado. os resultados obtidos aqui correspondem bem à análise teórica de que os precipitados de oxigênio causam a dispersão da luz. as informaçõ...
Os monocristais GaSb dopados com te são estudados medindo o efeito Hall, os espectros de transmissão infravermelha (IV) e de fotoluminescência (PL). Verifica-se que o GaSb n-type com transmitância IR pode ser obtido em até 60% pelo controle crítico da concentração Te-doping e compensação elétrica. A concentração dos defeitos associados ao receptor nativo é aparentemente baixa no GaSb em comparação...
o desenvolvimento do mercado de semicondutores de energia SiC e GaN O estado atual da tecnologia e do mercado de SiC, e os tendência de desenvolvimento nos próximos anos. O mercado de dispositivos de SiC é promissor. Vendas de barreira Schottky diodos amadureceram e os envios MOSFET deverão aumentar significativamente nos próximos três anos. De acordo com analistas da Yole Développement, o SiC é m...
Neste trabalho, usando um simulador de dispositivo eletro-térmico tridimensional totalmente acoplado, estudamos o mecanismo de degradação de eficiência em alta operação atual em planar G uma Diodos emissores de luz baseados em N (CONDUZIU). Em particular, foi demonstrada a melhoria da degradação da eficiência utilizando substratos GaN condutores mais espessos. Primeiro, verifica-se que o aquecimen...
Exame topográfico e químico de raios X de Si: Ge monocristais contendo 1,2 a% e 3,0 a% Ge, juntamente com medições precisas de parâmetros de rede. Contrastes de difração na forma de "quase-círculos" concêntricos (estriações), provavelmente devido à distribuição não uniforme dos átomos de Ge, foram observados em topografias de projeção. Os padrões de gravação revelaram faixas corresponden...
Nós apresentamos um método sem contato para a determinação do tempo de resposta térmica de sensores de temperatura embutidos em wafers. Neste método, uma lâmpada de flash ilumina um ponto na bolacha em pulsos periódicos; o ponto está no lado oposto do sensor em teste. A constante de tempo térmica do sensor é então obtida a partir da medição de sua resposta temporal, juntamente com um modelo teóric...
Usando deposição de vapor químico melhorado por plasma (PECVD) a 13,56 MHz, uma camada de semente é fabricada na fase inicial de crescimento do microcristalino hidrogenado silício germânio (μc-Si1-xGex: H) i-layer. Os efeitos dos processos de semeadura no crescimento de μc-Si1-xGex: H-camadas e o desempenho de μc-Si1-xGex: Hp-i-n células solares de junção única são investigados. Ao aplicar este mé...
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