Os monocristais GaSb dopados com te são estudados medindo o efeito Hall, os espectros de transmissão infravermelha (IV) e de fotoluminescência (PL). Verifica-se que o GaSb n-type com transmitância IR pode ser obtido em até 60% pelo controle crítico da concentração Te-doping e compensação elétrica. A concentração dos defeitos associados ao receptor nativo é aparentemente baixa no GaSb em comparação...
A irradiação de feixe de íons foi examinada como um método para a criação de pilares semicondutores em nanoescala e estruturas cônicas, mas tem a desvantagem de uma disposição nanoestruturada imprecisa. Nós relatamos um método para criar e modelar nanoescala InAs picos por irradiação de feixe de íons focado (FIB) de ambos os filmes InAs homoepitaxiais e InAs heteroepitaxiais em substratos de InP. ...
Para realizar o carboneto de silício de alto desempenho ( SiC ) dispositivos de potência, contatos ôhmicos de baixa resistência ao SiC tipo-p devem ser desenvolvidos. Para reduzir a resistência do contato ôhmico, é necessário reduzir a altura da barreira nas interfaces metal / SiC ou aumentar a concentração de dopagem nos substratos de SiC. Como a redução da altura da barreira é extremamente difíc...
o desenvolvimento do mercado de semicondutores de energia SiC e GaN O estado atual da tecnologia e do mercado de SiC, e os tendência de desenvolvimento nos próximos anos. O mercado de dispositivos de SiC é promissor. Vendas de barreira Schottky diodos amadureceram e os envios MOSFET deverão aumentar significativamente nos próximos três anos. De acordo com analistas da Yole Développement, o SiC é m...
Neste trabalho, usando um simulador de dispositivo eletro-térmico tridimensional totalmente acoplado, estudamos o mecanismo de degradação de eficiência em alta operação atual em planar G uma Diodos emissores de luz baseados em N (CONDUZIU). Em particular, foi demonstrada a melhoria da degradação da eficiência utilizando substratos GaN condutores mais espessos. Primeiro, verifica-se que o aquecimen...
Exame topográfico e químico de raios X de Si: Ge monocristais contendo 1,2 a% e 3,0 a% Ge, juntamente com medições precisas de parâmetros de rede. Contrastes de difração na forma de "quase-círculos" concêntricos (estriações), provavelmente devido à distribuição não uniforme dos átomos de Ge, foram observados em topografias de projeção. Os padrões de gravação revelaram faixas corresponden...
Nós apresentamos um método sem contato para a determinação do tempo de resposta térmica de sensores de temperatura embutidos em wafers. Neste método, uma lâmpada de flash ilumina um ponto na bolacha em pulsos periódicos; o ponto está no lado oposto do sensor em teste. A constante de tempo térmica do sensor é então obtida a partir da medição de sua resposta temporal, juntamente com um modelo teóric...
Usando deposição de vapor químico melhorado por plasma (PECVD) a 13,56 MHz, uma camada de semente é fabricada na fase inicial de crescimento do microcristalino hidrogenado silício germânio (μc-Si1-xGex: H) i-layer. Os efeitos dos processos de semeadura no crescimento de μc-Si1-xGex: H-camadas e o desempenho de μc-Si1-xGex: Hp-i-n células solares de junção única são investigados. Ao aplicar este mé...
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