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Crescimento epitaxial de camadas de Bi2Se3 em substratos de InP por epitaxia de parede quente

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Crescimento epitaxial de camadas de Bi2Se3 em substratos de InP por epitaxia de parede quente

2019-10-21

parâmetro de rede do eixo a de Bi 2 Se 3  é quase idêntico à periodicidade de rede da superfície InP (1 1 1). Conseqüentemente, obtemos camadas de Bi 2 Se 3  (0 0 0 1) notavelmente suaves em crescimento de epitaxia de parede quente em substratos de InP (1 1 1)B. A periodicidade correspondente à rede é preservada nas $1\bar{\,1\,}0$direções [1 1 0] e [ ] da superfície (0 0 1). As camadas de Bi 2 Se 3  cultivadas em substratos de InP (0 0 1) exibem simetria no plano de 12 vezes, pois a $1\,1\,\bar{2}\,0$direção [ ] de Bi 2 Se 3  está alinhada com qualquer uma das duas direções. Quando o substrato InP orientado (1 1 1)s são inclinados, as camadas Bi 2 Se 3  (0 0 0 1) desenvolvem degraus com uma altura de ~50 nm. A inclinação do eixo Bi 2 Se 3  [0 0 0 1] em relação à superfície de crescimento é responsável pela criação das etapas. O crescimento epitaxial é assim evidenciado para ocorrer em vez do crescimento de van der Waals. Apontamos suas implicações nos estados de superfície de isolantes topológicos.

Fonte: IOPscience

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