wafers de ge-cristal plasticamente deformados que possuem a forma cilíndrica com uma grande curvatura foram caracterizados por difração de nêutrons. a curva de balanço de tipo caixa da reflexão de Bragg com a largura angular de Γbox≃2 ° em fwhm, que é observável na difração monocromática de nêutrons, resulta em um aumento na intensidade integrada em ângulo (iθ). além disso, o iθ aumenta eficientemente empilhando essas ge wafers. no curso da difração de nêutrons brancos, a largura do feixe refletido perto do ponto de foco se torna mais nítida do que a largura do feixe inicial. além disso, a dependência da largura do feixe horizontal na distância entre a amostra e o detector é explicada quantitativamente levando-se em conta a grande caixa, o pequeno espalhamento em mosaico de 0,1 e a espessura das pastilhas. Com base nessas caracterizações, propõe-se o uso de ge bolachas plasticamente deformadas como elementos para o monocromador de nêutrons de alta luminância.

palavras-chave

plasticamente deformado ge wafer; cristal de monocromador de nêutrons; foco de feixe de nêutrons

fonte: sciencedirect

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